东莞 回收 Fluke/福禄克 Ti32热像仪 Ti400高精度热像仪
福禄克Ti32 详细技术指标
温度 温度测量范围(-10 °C 以下未经校准) -20 ℃ ~ +600 ℃
准确度 ± 2 ℃ 或者 2 %,取大值
发射率修正 是
背景温度补偿 是
传输校正 是
成像性能 图像捕捉频率 9 Hz 刷新率或 60 Hz 刷新率,取决于型号
探测器类型 320 x 240 焦平面阵列,非制冷微测辐射热计
热灵敏度(NETD) ≤ 0.045 ℃,(30 ℃ 目标温度时)(45 mK)
光谱带 7.5 μm ~ 14 μm(长波)
可见光照相机 200万像素
**小焦距 46 cm(约 18 in)
Fluke/福禄克Ti400 详细技术指标
温度
温度测量范围(-10°C 以下未校准) -20 °C 至 +1200 °C
(-4 °F 至 +2192 °F)
精度 ± 2 °C 或 2 %(25 °C 时,取读数较大值)
屏显发射率校正 是(根据数字和表格)
屏显反射背景温度补偿 有
屏显传输校正 有
成像性能
图像捕捉频率 刷新率:9 Hz 或 60 Hz(取决于型号)
探测器类型 320 x 240 像素焦平面阵列,非致冷型微测辐射热计
热敏度 (NETD) 30 °C 目标温度时,≤ 0.05 °C(50 mK)
总像素 76,800
红外光谱带 7.5 μm 至 14 μm(长波)
可视(可见光)照相机 工业性能,500 万像素
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