详细介绍
桥式测量机CONTURA G2
一机多用的扫描平台
物**的CONTURA G2®非常适合中小型生产企业，其扫描技术可以高密度处理数据。利用VAST®的扫描技术使工件的形状检验可以 快速度获得高品质测量结果。可即时发现加工中的变化，确保产品质量并将废品率降至 低限度。
重要特征
坚固耐用的机械设计
X轴和Z轴均采用工业陶瓷作为导轨材料，具有良好的刚性，并有效防止温度波动及湿度和其他环境条件的影响
适合车间的玻璃陶瓷光栅尺受粉尘和其他杂质的影响小
三轴均采用四面环抱气浮轴承，可在高速运行和加速的条件下保持刚性和稳定性
机器技术
值得**的控制技术
的计算机辅助误差技术（CAA），用于计算机辅助动态修正，**测量结果准确可靠
C99控制柜，来自卡尔·蔡司的控制技术，实现机器和探头的 佳匹配
模块化设计确保维保便捷并全面满足未来升级需求
用户友好型标准控制面板，更方便、 地控制所有轴向运动；无级变速旋钮，随时调整测量速度
探头
CONTURA G2 direkt：采用蔡司扫描技术的入门级机型，配备Vast®XXT扫描探头，可以升级为G2 RDS
CONTURA G2 RDS：配备蔡司旋转测座RDS，结合接触式扫描探头Vast®XXT或光学探头Viscan，可自由、快速旋转，扫描范围达到任意角度位置
CONTURA G2 aktiv：配备蔡司Vast®XT主动扫描探头，可打点和扫描， 测量深孔元素，对尺寸、形状及位置测量可靠性高
CONTURA G2 navigator：配备蔡司Vast XT gold主动扫描探头，提供 大精度的高速扫描
选项
设备的探针更换架具有非常高的更换重复精度，无须再次校准
采用HTG（宽温带）机型，可以在较宽的温度范围内达到相同的测量精度
采用U-STONE技术，将测量有效高度提升200mm，扩大Z轴测量空间
软件
蔡司用户友好型功能软件库
基本软件包和选项产品满足所有的实际应用需求
优化的面向对象编程模式
全面模拟
支持不同的探头
图形化日志和统计
尺寸
测量范围 X× Y× Z[mm]
CONTURA G2 700 × (700~1000) × 600
1000 × (1200~1600) × 600
(含U-Stone)
长度测量误差(μm): 1.5 + L/333* 起
* - L = 测量长度以mm为单位
- 根据设备规格、所配探头及使用环境，精度有所不同
传感系统
一机多用的扫描平台
物**的CONTURA G2®非常适合中小型生产企业，其扫描技术可以高密度处理数据。利用VAST®的扫描技术使工件的形状检验可以 快速度获得高品质测量结果。可即时发现加工中的变化，确保产品质量并将废品率降至 低限度。
重要特征
坚固耐用的机械设计
X轴和Z轴均采用工业陶瓷作为导轨材料，具有良好的刚性，并有效防止温度波动及湿度和其他环境条件的影响
适合车间的玻璃陶瓷光栅尺受粉尘和其他杂质的影响小
三轴均采用四面环抱气浮轴承，可在高速运行和加速的条件下保持刚性和稳定性
机器技术
值得**的控制技术
的计算机辅助误差技术（CAA），用于计算机辅助动态修正，**测量结果准确可靠
C99控制柜，来自卡尔·蔡司的控制技术，实现机器和探头的 佳匹配
模块化设计确保维保便捷并全面满足未来升级需求
用户友好型标准控制面板，更方便、 地控制所有轴向运动；无级变速旋钮，随时调整测量速度
探头
CONTURA G2 direkt：采用蔡司扫描技术的入门级机型，配备Vast®XXT扫描探头，可以升级为G2 RDS
CONTURA G2 RDS：配备蔡司旋转测座RDS，结合接触式扫描探头Vast®XXT或光学探头Viscan，可自由、快速旋转，扫描范围达到任意角度位置
CONTURA G2 aktiv：配备蔡司Vast®XT主动扫描探头，可打点和扫描， 测量深孔元素，对尺寸、形状及位置测量可靠性高
CONTURA G2 navigator：配备蔡司Vast XT gold主动扫描探头，提供 大精度的高速扫描
选项
设备的探针更换架具有非常高的更换重复精度，无须再次校准
采用HTG（宽温带）机型，可以在较宽的温度范围内达到相同的测量精度
采用U-STONE技术，将测量有效高度提升200mm，扩大Z轴测量空间
软件
蔡司用户友好型功能软件库
基本软件包和选项产品满足所有的实际应用需求
优化的面向对象编程模式
全面模拟
支持不同的探头
图形化日志和统计
尺寸
测量范围 X× Y× Z[mm]
CONTURA G2 700 × (700~1000) × 600
1000 × (1200~1600) × 600
(含U-Stone)
长度测量误差(μm): 1.5 + L/333* 起
* - L = 测量长度以mm为单位
- 根据设备规格、所配探头及使用环境，精度有所不同
传感系统
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