详细介绍
GB/T 1410-2006 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法（IEC 60093:1980，IDT）
机械法单层法原理，根据ISO 4593:1993用精密千分尺或立式光学计或其他仪器测量单张试样的厚度。
方法B适用于较宽的薄膜大于或等于150mm，其变形主要表现为凹陷。对于很厚的薄膜，由于其变形主要表现为凹陷。
JB/T 3283-1999 固体绝缘材料相对耐表面放电击穿性能试验方法（eqv IEC 60343:1991）
IEC 60260:1968 非注入式恒定相对湿度试验箱
从而会出现**总平面的凹陷部分，规定两种方法测量变形：方法A适用于窄的薄膜小于150mm，其变形主要表现为偏移/弧形；
相对湿度50%±5%的条件下至少放置24h，取好的试样应在该条件下处理1h。试验条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外。
根据测定的质量、面积和密度计算样品的厚度，测量仪器分析天平感量0.1mg，钢板尺分度值0.5mm。
取其平均值作为试验结果，并报告**值和**小值。重量法（质量密度法）原理按ISO4591:1991中的部分。
ISO 4592:1992 塑料 薄膜和薄板 长度和宽度的测定
测量仪器薄膜厚度小于100µm时，用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm~50mm的球面测帽。
精度不**0.2µm，薄膜厚度大于等于15µm但小于100µm时，精度不**1µm；薄膜厚度大于或等于100µm，精度不**2µm。
IEC 61074:1991 用差示扫描量热法测定电气绝缘材料熔融热、熔点及结晶热、结晶温度的试验方法
并沿薄膜样条的长度方向缠绕于洁净的样板推荐尺寸为：250mm×200mm。其中200mm为板的长度方向尺寸。
并报告**值和**小值，叠层法测量仪器千分尺：精度为1µm，直径为6mm的平面测帽，测力为6N~10N。
试验应在温度23℃±2℃、相对湿度50%±5%、环境洁净度不大于10000级的条件下进行。厚度应按产品标准要求采用下列规定中的一种或几种方法进行测定。
按ISO 4593:1993的要求，测量试样的厚度。在试样上等距离共测量27点，两测量点间距不少于50mm。
GB/T 1033.1-2008 塑料 非泡沫塑料密度的测定 部分：浸渍法、液体比重瓶法和滴定法（ISO 1183-1:2004，IDT）
沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜当膜卷宽度小于400mm时，可适当多取几条，试样不应有皱折或其他缺陷。
GB/T 7196-1987 用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法（eqv IEC 60680:1977）
测量压力为0.5N~1N，薄膜厚度大于或等于100µm时，可用千分尺测量。仪器精度要求：薄膜厚度小于15µm时。
GB/T 13542 的本部分规定了电气绝缘用薄膜的试验方法，适用于电气绝缘和薄膜。
GB/T 11026.1-2003 电气绝缘材料 耐热性 部分：老化程序和试验结果的评定（IEC60216-1:2001，IDT）
h——试样的厚度，单位为微米（µm）；m——试样的质量，单位为克（g）；s——试样的面积，单位为平方厘米（cm2）；
d——试样的实测密度，单位为克每立方厘米（g/cm3）。取三个计算值的中值作为试验结果，结果取三位有效数字。
GB/T 10582-2008 电气绝缘材料 测定因绝缘材料引起的电解腐蚀的试验方法（IEC 60426:2007，IDT）
这两种变形是：偏移/弧形：薄膜平整地展开时，其边缘不呈直线；凹陷：薄膜的局部面积因受拉伸。
GB/T 11999-1989 塑料薄膜和薄片耐撕裂性试验方法 埃莱门多夫法（eqv ISO 6383-2:1983）
并按性能要求进行制样，预处理条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外，取样前样品薄膜卷应在23℃±2℃。
测量在薄膜卷上取三片长方形试样，每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积，用分析天平测量试样质量。
GB/T 10006-1988 塑料薄膜和薄片摩擦系数测定方法（idt ISO 8295:1986）
薄膜叠层试样的数量为四个，每个叠层试样由12层薄膜组成，其制备方法如下：从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取。
对未切边的膜卷，测量点应离薄膜边缘50mm，对已切边的卷，测量点应离薄膜边缘2mm。取27个测量值的中值作为试验结果。
ISO 4591:1992 塑料 薄膜和薄板 以重量分析技术（重量分析厚度）测定试样的平均厚度和整卷的平均厚度和量度
GB/T 1409-2006 测定电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法（IEC 60250:1969，MOD）
GB/T 11026.4-1999 确定电气绝缘材料耐热性的导则 第4部分：老化烘箱 单室烘箱（idt IEC 60216-4-1:1990）
在测量之前去掉叠层的**外层和**内层实际测量十层，再进行测量。结果叠层试样测量厚度除以10，得到单层薄膜厚度。
GB/T 10580-2003 固体绝缘材料试验前和试验时采用的标准条件（IEC 60212:1971，IDT）
ISO 4593:1993 塑料 薄膜和薄板 机械扫描测定厚度
卷绕性（偏移/弧形或凹陷）原理用于评定成卷供货的薄膜的变形情况。薄膜的变形可能有两种形式，它们会影响以后使用时的绕包性。
沿样品纵向取5m使薄膜处于放松状态1h后，沿纵向等距离测定宽度五次。记录每一宽度测定值，取中值作为该卷的宽度。
按本部分第5章规定测量试样的密度，结果每个测量值的结果按式（1）计算：…………（1）
取样、预处理条件和试验条件，从薄膜卷上取样时，应至少先剥去**外三层薄膜，取样时的环境条件同试验条件。
GB/T 11026.2-2000 确定电气绝缘材料耐热性的导则 部分：试验判断标准的选择（idt IEC 60216-2:1990）
GB/T 11026.3-2006 电气绝缘材料耐热性 部分：计算耐热性特征参数的规程（IEC 60216-3:2002，IDT）
用重量法测定卷的平均厚度，原理：按ISO4591:1991中的部分，根据膜卷的长度、平均宽度和净重以及薄膜的密度计算平均厚度。
GB/T 1408.1-2006 绝缘材料电气强度试验方法 部分：工频下试验（IEC 60243-1:1998）
横向厚度分布和纵向厚度变化待定中。密度按GB/T 1033.1-2008的规定，宽度按ISO4592:1992中部分规定测定。
机械法单层法原理，根据ISO 4593:1993用精密千分尺或立式光学计或其他仪器测量单张试样的厚度。
方法B适用于较宽的薄膜大于或等于150mm，其变形主要表现为凹陷。对于很厚的薄膜，由于其变形主要表现为凹陷。
JB/T 3283-1999 固体绝缘材料相对耐表面放电击穿性能试验方法（eqv IEC 60343:1991）
IEC 60260:1968 非注入式恒定相对湿度试验箱
从而会出现**总平面的凹陷部分，规定两种方法测量变形：方法A适用于窄的薄膜小于150mm，其变形主要表现为偏移/弧形；
相对湿度50%±5%的条件下至少放置24h，取好的试样应在该条件下处理1h。试验条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外。
根据测定的质量、面积和密度计算样品的厚度，测量仪器分析天平感量0.1mg，钢板尺分度值0.5mm。
取其平均值作为试验结果，并报告**值和**小值。重量法（质量密度法）原理按ISO4591:1991中的部分。
ISO 4592:1992 塑料 薄膜和薄板 长度和宽度的测定
测量仪器薄膜厚度小于100µm时，用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm~50mm的球面测帽。
精度不**0.2µm，薄膜厚度大于等于15µm但小于100µm时，精度不**1µm；薄膜厚度大于或等于100µm，精度不**2µm。
IEC 61074:1991 用差示扫描量热法测定电气绝缘材料熔融热、熔点及结晶热、结晶温度的试验方法
并沿薄膜样条的长度方向缠绕于洁净的样板推荐尺寸为：250mm×200mm。其中200mm为板的长度方向尺寸。
并报告**值和**小值，叠层法测量仪器千分尺：精度为1µm，直径为6mm的平面测帽，测力为6N~10N。
试验应在温度23℃±2℃、相对湿度50%±5%、环境洁净度不大于10000级的条件下进行。厚度应按产品标准要求采用下列规定中的一种或几种方法进行测定。
按ISO 4593:1993的要求，测量试样的厚度。在试样上等距离共测量27点，两测量点间距不少于50mm。
GB/T 1033.1-2008 塑料 非泡沫塑料密度的测定 部分：浸渍法、液体比重瓶法和滴定法（ISO 1183-1:2004，IDT）
沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜当膜卷宽度小于400mm时，可适当多取几条，试样不应有皱折或其他缺陷。
GB/T 7196-1987 用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法（eqv IEC 60680:1977）
测量压力为0.5N~1N，薄膜厚度大于或等于100µm时，可用千分尺测量。仪器精度要求：薄膜厚度小于15µm时。
GB/T 13542 的本部分规定了电气绝缘用薄膜的试验方法，适用于电气绝缘和薄膜。
GB/T 11026.1-2003 电气绝缘材料 耐热性 部分：老化程序和试验结果的评定（IEC60216-1:2001，IDT）
h——试样的厚度，单位为微米（µm）；m——试样的质量，单位为克（g）；s——试样的面积，单位为平方厘米（cm2）；
d——试样的实测密度，单位为克每立方厘米（g/cm3）。取三个计算值的中值作为试验结果，结果取三位有效数字。
GB/T 10582-2008 电气绝缘材料 测定因绝缘材料引起的电解腐蚀的试验方法（IEC 60426:2007，IDT）
这两种变形是：偏移/弧形：薄膜平整地展开时，其边缘不呈直线；凹陷：薄膜的局部面积因受拉伸。
GB/T 11999-1989 塑料薄膜和薄片耐撕裂性试验方法 埃莱门多夫法（eqv ISO 6383-2:1983）
并按性能要求进行制样，预处理条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外，取样前样品薄膜卷应在23℃±2℃。
测量在薄膜卷上取三片长方形试样，每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积，用分析天平测量试样质量。
GB/T 10006-1988 塑料薄膜和薄片摩擦系数测定方法（idt ISO 8295:1986）
薄膜叠层试样的数量为四个，每个叠层试样由12层薄膜组成，其制备方法如下：从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取。
对未切边的膜卷，测量点应离薄膜边缘50mm，对已切边的卷，测量点应离薄膜边缘2mm。取27个测量值的中值作为试验结果。
ISO 4591:1992 塑料 薄膜和薄板 以重量分析技术（重量分析厚度）测定试样的平均厚度和整卷的平均厚度和量度
GB/T 1409-2006 测定电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法（IEC 60250:1969，MOD）
GB/T 11026.4-1999 确定电气绝缘材料耐热性的导则 第4部分：老化烘箱 单室烘箱（idt IEC 60216-4-1:1990）
在测量之前去掉叠层的**外层和**内层实际测量十层，再进行测量。结果叠层试样测量厚度除以10，得到单层薄膜厚度。
GB/T 10580-2003 固体绝缘材料试验前和试验时采用的标准条件（IEC 60212:1971，IDT）
ISO 4593:1993 塑料 薄膜和薄板 机械扫描测定厚度
卷绕性（偏移/弧形或凹陷）原理用于评定成卷供货的薄膜的变形情况。薄膜的变形可能有两种形式，它们会影响以后使用时的绕包性。
沿样品纵向取5m使薄膜处于放松状态1h后，沿纵向等距离测定宽度五次。记录每一宽度测定值，取中值作为该卷的宽度。
按本部分第5章规定测量试样的密度，结果每个测量值的结果按式（1）计算：…………（1）
取样、预处理条件和试验条件，从薄膜卷上取样时，应至少先剥去**外三层薄膜，取样时的环境条件同试验条件。
GB/T 11026.2-2000 确定电气绝缘材料耐热性的导则 部分：试验判断标准的选择（idt IEC 60216-2:1990）
GB/T 11026.3-2006 电气绝缘材料耐热性 部分：计算耐热性特征参数的规程（IEC 60216-3:2002，IDT）
用重量法测定卷的平均厚度，原理：按ISO4591:1991中的部分，根据膜卷的长度、平均宽度和净重以及薄膜的密度计算平均厚度。
GB/T 1408.1-2006 绝缘材料电气强度试验方法 部分：工频下试验（IEC 60243-1:1998）
横向厚度分布和纵向厚度变化待定中。密度按GB/T 1033.1-2008的规定，宽度按ISO4592:1992中部分规定测定。
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